AutoScan T42 3D SCANTECH - Sistema de automatización 3D

Inspección automática e inteligente

AutoScan T42 funciona perfectamente con línea de producción.

El sistema 3D automatizado AutoScan T42 es una nueva actualización para la inspección automática inteligente. Está especialmente diseñado para el control de calidad automatizado en las condiciones del taller, lo que facilita a las empresas lograr la combinación óptima entre costo y eficiencia.

El AutoScan-T42 puede realizar escaneos no destructivos sin necesidad de colocar marcadores. Su perfecta conexión con la línea de producción contribuye a reducir la carga de trabajo. La calidad de fabricación de grado militar presenta una fuerte anti interferencia y una alta capacidad de adaptación a los complejos y duros entornos de taller. El sistema 3D AutoScan-T42 puede usarse ampliamente en defensa nacional, energía, 5G, fabricación de moldes, etc., los usuarios pueden manejarlo fácilmente gracias al inicio con un solo clic, la programación sin conexión y la compatibilidad con software 3D.

Especificación Técnica AutoScan-T42

Especificación Técnica Escáner SIMSCAN42

Tipo		Autoscan-T42
Modo de escaneo	Escaneo ultrarrápido	17 cruces láser azules
	Modo hiperfino B	7 líneas láser azules paralelas
	Escaneo de agujeros profundos	1 línea láser azul adicional
	Escaneo de agugeros profundos	1 línea láser azul adicional
Total de líneas láser		42
Precisión(1)		0.025 mm
Velocidad de escaneo		1,900,000 puntos/s
Área de escaneo		Hasta 310 mm × 350 mm
Clase de láser		CLASS Ⅱ (seguro para los ojos)
Resolución		Hasta 0.020 mm
Precisión volumétrica(2)	10.4 m³	0.064 mm
Precisión volumétrica(2)	18.0 m³	0.078 mm
Precisión volumétric (Con el sistema de fotogrametría MSCAN-L15)		0.044 mm + 0.012 mm/m
Rango de tamaño de la pieza (recomendado)		200 mm–6000 mm
Distancia de separación		300 mm
Formatos de salida		.stl, .ply, .obj, .igs, wrl, .xyz, .dae, .fbx, .ma, .asc o personalizado
Temperatura de funcionamiento		-10℃-40℃
Interfaz		USB 3.0

(1) Acreditación ISO 17025: Basado en la norma VDI/VDE 2634 Parte 3 y la especificación JJF 1951, se evalúa el rendimiento del error de palpación (tamaño) (PS).
(2) Acreditación ISO 17025: Basado en la norma VDI/VDE 2634 Parte 3 y la especificación JJF 1951, se evalúa el error de espaciado de esferas (SD).

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